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磁粉探傷試片A型,A1型,D型,C型,M1型,A型試片 ,D型試片,C型試片
簡(jiǎn)要描述：磁粉探傷用試片A1、A2、D、C、M1型主要用于檢驗(yàn)磁粉檢測(cè)設(shè)備、磁粉和磁懸液綜合性能。了解被檢工件表面有效磁場(chǎng)強(qiáng)度和方向、有效檢測(cè)區(qū)以及磁化方法是否正確。
產(chǎn)品型號(hào)：- 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間：2024-04-15
- 訪 問(wèn) 量：5223
磁粉探傷用試片使用說(shuō)明
磁粉探傷用試片A1、A2、D、C、M1型主要用于檢驗(yàn)磁粉檢測(cè)設(shè)備、磁粉和磁懸液綜合性能。了解被檢工件表面有效磁場(chǎng)強(qiáng)度和方向、有效檢測(cè)區(qū)以及磁化方法是否正確。
標(biāo)準(zhǔn)試片A1、A2、D、C、M1型規(guī)格中：
| 名稱 | A型試片 | D型 | C型 | M1 | ||
| 試片厚度微米 | 100±10 | 50±5 | 50±5 | 50±5 | 50±5 | |
| 試片長(zhǎng)度毫米 | 20±1 | 20±1 | 10±0.5 | 10±0.5 | 20±1 | |
| 試片寬度毫米 | 20±1 | 20±1 | 10±0.5 | 50±0.5 | 20±1 | |
| 分割線間隔毫米 | | | | 5±0.5 | | |
| 圓形人工槽直徑毫米 | 高靈敏度 | 10±0.5 | 10±0.5 | 5±0.3 | | 12 |
| 中靈敏度 | | | | | 9 | |
| 低靈敏度 | | | | | 6 | |
| 十字人工槽長(zhǎng)度毫米 | 高靈敏度 | 6±0.3 | 6±0.3 | 3±0.2 | | |
| 中靈敏度 | | | | | | |
| 低靈敏度 | | | | | | |
| 人工槽深度 微米 | 高靈敏度 | 15±2.0 | 7±1.0 | 7±1.0 | 8±1.0 | 7 |
| 中靈敏度 | 30±4.0 | 15±2.0 | 15±2.0 | 15±2.0 | 15 | |
| 低靈敏度 | 60±8.0 | 30±4.0 | 30±4.0 | 30±4.0 | 30 | |
| 人工槽寬度 微米 | 60—180 | |||||
標(biāo)準(zhǔn)試片使用方法：
標(biāo)準(zhǔn)試片適用于連續(xù)磁化法，使用時(shí)應(yīng)將試片無(wú)人工缺陷的面朝外，為使試片與被檢面接觸良好，可用透明膠帶將其平整粘貼在被檢面上，并注意膠帶不能覆蓋試片上的人工缺陷。
磁粉檢測(cè)時(shí)一般應(yīng)選用A130/100型標(biāo)準(zhǔn)試片。當(dāng)檢測(cè)坡口狹小部位，由于尺寸關(guān)系可選擇適合大小的試片檢測(cè)；當(dāng)用戶需要或技術(shù)文件有規(guī)定時(shí)，可選用規(guī)定的試片檢測(cè)。
標(biāo)準(zhǔn)試片在檢測(cè)前用柔軟紙或紗片將試片表面油擦去；檢測(cè)后請(qǐng)防銹。
標(biāo)準(zhǔn)試片表面有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時(shí)不得繼續(xù)使用。
A1、A2試片外型規(guī)格一樣。A1試片經(jīng)過(guò)退火處理；A2試片未經(jīng)過(guò)退火處理。
C型標(biāo)準(zhǔn)試片可剪成5個(gè)小試片分別使用。
磁粉探傷用試片使用說(shuō)明
磁粉探傷用試片A1、A2、D、C、M1型主要用于檢驗(yàn)磁粉檢測(cè)設(shè)備、磁粉和磁懸液綜合性能。了解被檢工件表面有效磁場(chǎng)強(qiáng)度和方向、有效檢測(cè)區(qū)以及磁化方法是否正確。
| 名稱 | A型試片 | D型 | C型 | M1 | ||
| 試片厚度微米 | 100±10 | 50±5 | 50±5 | 50±5 | 50±5 | |
| 試片長(zhǎng)度毫米 | 20±1 | 20±1 | 10±0.5 | 10±0.5 | 20±1 | |
| 試片寬度毫米 | 20±1 | 20±1 | 10±0.5 | 50±0.5 | 20±1 | |
| 分割線間隔毫米 | | | | 5±0.5 | | |
| 圓形人工槽直徑毫米 | 高靈敏度 | 10±0.5 | 10±0.5 | 5±0.3 | | 12 |
| 中靈敏度 | | | | | 9 | |
| 低靈敏度 | | | | | 6 | |
| 十字人工槽長(zhǎng)度毫米 | 高靈敏度 | 6±0.3 | 6±0.3 | 3±0.2 | | |
| 中靈敏度 | | | | | | |
| 低靈敏度 | | | | | | |
| 人工槽深度 微米 | 高靈敏度 | 15±2.0 | 7±1.0 | 7±1.0 | 8±1.0 | 7 |
| 中靈敏度 | 30±4.0 | 15±2.0 | 15±2.0 | 15±2.0 | 15 | |
| 低靈敏度 | 60±8.0 | 30±4.0 | 30±4.0 | 30±4.0 | 30 | |
| 人工槽寬度 微米 | 60—180 | |||||
標(biāo)準(zhǔn)試片A1、A2、D、C、M1型規(guī)格中：
標(biāo)準(zhǔn)試片使用方法：
標(biāo)準(zhǔn)試片適用于連續(xù)磁化法，使用時(shí)應(yīng)將試片無(wú)人工缺陷的面朝外，為使試片與被檢面接觸良好，可用透明膠帶將其平整粘貼在被檢面上，并注意膠帶不能覆蓋試片上的人工缺陷。
磁粉檢測(cè)時(shí)一般應(yīng)選用A130/100型標(biāo)準(zhǔn)試片。當(dāng)檢測(cè)坡口狹小部位，由于尺寸關(guān)系可選擇適合大小的試片檢測(cè)；當(dāng)用戶需要或技術(shù)文件有規(guī)定時(shí)，可選用規(guī)定的試片檢測(cè)。
標(biāo)準(zhǔn)試片在檢測(cè)前用柔軟紙或紗片將試片表面油擦去；檢測(cè)后請(qǐng)防銹。
標(biāo)準(zhǔn)試片表面有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時(shí)不得繼續(xù)使用。
A1、A2試片外型規(guī)格一樣。A1試片經(jīng)過(guò)退火處理；A2試片未經(jīng)過(guò)退火處理。
C型標(biāo)準(zhǔn)試片可剪成5個(gè)小試片分別使用。
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